FastEr NaNo-Characterisation
L’objectif du projet FENNEC de l’ANR-MRSEI est de faciliter le montage d’un projet pour l’appel DT-NMBP-08-2019 intitulé « Real-time nano-characterisation technologies (RIA) ». La caractérisation à l’échelle nanométrique permet d’avoir des informations uniques sur la structuration et les propriétés des matériaux et des dispositifs mais nécessite une expérience pointue dépendant des matériaux envisagés, des temps d’acquisition, de dépouillement et d’analyse, incompatibles avec les contraintes d’une ligne de production industrielle. Cet appel souhaite réduire d’abord ces différentes contraintes notamment en accélérant l’acquisition et l’analyse des données instrumentales. Il veut aussi pouvoir valoriser plus facilement les résultats de nano-caractérisations avancées.
Start Date: 2018, August 1st
Duration: 24 months
Leader: T. Deutsch (CEA/MEM)
Avalon Members: C. Perez, E. Caron